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材料水分、厚度、密度检测
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ANA-Mu-66i半微量分析天平主要用于毫克级或微克级的微量样品称量,采用彩色触摸屏设计,内有全自动定时内部校准功能,它的核心定位是常规分析天平与微量天平之间的精度空白,广泛用于高校及研究实验室中,为需要高重复性和低检测限的实验提供精确数据。